[摘要]就當(dāng)前國內(nèi)外主要的專利計量指標，從適用性的角度將其劃分為宏觀、中觀和微觀三個層次，并就其計算方法和表征意義進行詳細介紹。通過分析發(fā)現(xiàn)，專利指標主要從量、率和質(zhì)的角度，體現(xiàn)宏觀技術(shù)領(lǐng)域、中現(xiàn)具體企業(yè)和微觀專利文獻方面的差異。最后，對當(dāng)前專利計量指標應(yīng)用過程中存在的一些問題進行探討，尤其是對我國專利計量中存在的一些獨特問題進行較為深入的剖解，希望可以對相關(guān)政策制定和產(chǎn)業(yè)布局規(guī)劃提供一定的參考。
　　[關(guān)鍵詞]專利計量　指標　計算方法　表征意叉
　　[分類號]G35
　　
　　　1　引言
　　專利計量作為專利分析方面的一種重要方法，一方面可以反映一個國家或地區(qū)的技術(shù)實力和創(chuàng)新能力；另一方面也可以在宏觀和中觀層面反映某一產(chǎn)業(yè)和具體企業(yè)的發(fā)明活動、技術(shù)水準及其在科學(xué)技術(shù)與?濟競爭中的地位和貢獻等，甚至也可以應(yīng)用于微觀層面特定專利的質(zhì)量評價中。指標作為專利計量方法中的主要組成部分，在量化宏觀、中觀和微觀層面的技術(shù)水準方面有重要的應(yīng)用。
　　盡管部分專家學(xué)者對專利計量的研究也涉及了宏觀、中觀和微觀三個層次的計量指針劃分，且以全球有機電激發(fā)光技術(shù)相關(guān)專利做了實證分析，但卻并未對這三個層次的專利計量指針作出系統(tǒng)詳細的闡述和應(yīng)用分析，同時也未對當(dāng)前專利計量分析中存在的一些問題予以分析討論。鑒于此，本文深入了解目前國內(nèi)外的主要計量指標，從適用性的角度，將其劃分為宏觀、中觀和微觀三個層次，以期能夠客觀地評價某一產(chǎn)業(yè)、具體企業(yè)和特定專利文獻的技術(shù)創(chuàng)新水平。
　　
　　2　專利計量指標及其應(yīng)用分析
　　
　　當(dāng)前，國內(nèi)外的專利計量指標有很多，目，其巾多數(shù)指標既可以應(yīng)用于宏觀層面關(guān)于產(chǎn)業(yè)的科學(xué)技術(shù)水準衡量，也可以應(yīng)用于不同企業(yè)的科學(xué)技術(shù)水準或創(chuàng)新能力比較，又或用于特定專利的技術(shù)力量或創(chuàng)新程度估計等。不過，筆者認為宏觀層面的專利計量指針，更多的應(yīng)該是強調(diào)“量”的變化，即反映整體行業(yè)的科學(xué)技術(shù)水準變化或整個行業(yè)當(dāng)前的發(fā)展現(xiàn)狀及其趨勢等；而中觀層面，則應(yīng)該關(guān)注于“率”的變迂，即度量具體企業(yè)在整個行業(yè)中所處的地位及其未來變化等；最后在微觀層而，則強調(diào)具體專利的“質(zhì)”的差異，即不同專利發(fā)明活動的創(chuàng)新程度、?濟價值等之間的差異。
　　
　　2.1　宏觀專利計量指標及其應(yīng)用
　　宏觀層面的專利計量指針是用于衡量某一技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)明活動或其發(fā)展狀況的。這些指標一方面通過整個行業(yè)的專利數(shù)量變化，反映了該領(lǐng)域的發(fā)展狀況；另一方面，根據(jù)技術(shù)生命周期理論――技術(shù)發(fā)展的軌跡，即由誕生到壯大再到衰退的路線，區(qū)別開不同技術(shù)的發(fā)展階段。宏觀專利汁量指標如表1所示：
　　上述9個指標，歷年專利授權(quán)量和技術(shù)集中度具有普適意義，可以運用到任何技術(shù)領(lǐng)域的分析；技術(shù)生長率、技術(shù)成熟系數(shù)和技術(shù)衰老系數(shù)，則充分應(yīng)用r發(fā)明、實用新型和外觀沒計這三類專利間的創(chuàng)新水平差異，這樣的指標具有領(lǐng)域相關(guān)性，不同行業(yè)問的差異比較大；技術(shù)強度指標則是取兩個指標“專利數(shù)”和“當(dāng)前影響指數(shù)”的長處，形成的一個新的指針，在顯示技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新水平方面有較好的應(yīng)用。至于美國授權(quán)專利量、三方專利量和PCT中清數(shù)，一方面充分考慮了不同國家專利局在權(quán)威性方面的差異；另一方面又杜絕了“本土優(yōu)勢”的影響，在顯示技術(shù)領(lǐng)域巾不同國家間的技術(shù)實力差異方面，具有更好的效果。對此，Zan Huang、Fang-Mei Tseng、周文彥、Lee s等人對具體的領(lǐng)域進行了應(yīng)用。
　　
　　2.2　中觀專利計量指標及其應(yīng)用
　　中觀層而更多的是區(qū)分具體企業(yè)在這個領(lǐng)域中的地位，顯示不同企業(yè)問的技術(shù)水準差距，敝多數(shù)的計量指標需要反映出該企業(yè)在此行業(yè)中的“率”變，見表2。
　　
　　
　　中觀層次的計量指針，從專利類型、專利量變、與科學(xué)的聯(lián)系、專利引用、專利被引等多個角度的率變，衡量了企業(yè)的科研能力、技術(shù)水準、創(chuàng)新程度等，從而更客觀地反映了該企業(yè)在特定技術(shù)領(lǐng)域所處的地位。就具體企業(yè)而言，專利授權(quán)率、專利增長率、技術(shù)力量、企業(yè)研發(fā)重點、企業(yè)活性因子、技術(shù)獨立性、專利效率等指標所涉及到的專利數(shù)據(jù)，一方面容易獲得，另一方面計算方法也易于實現(xiàn)。而相對研發(fā)能力、相對專利被引證率、引用頻率、科學(xué)關(guān)聯(lián)度、H指數(shù)等指標，就需要借助權(quán)威的專利數(shù)據(jù)庫，通過計算競爭企業(yè)的對應(yīng)指標值，在比較的基礎(chǔ)上，發(fā)掘自身企業(yè)的技術(shù)優(yōu)勢與劣勢，以便為企業(yè)制定“跟隨型企業(yè)戰(zhàn)略”、“防守型企業(yè)戰(zhàn)略”等提供參考。其中，Li Y R和Li T Y、CozijnP W、欒春娟等人、官建成等人、邱均平等人。對具體的企業(yè)進行了評價分析。
　　
　　2.3　微觀專利計量指標及其應(yīng)用
　　微觀層而的專利計量指標，通過多個角度的比較分析，反映了單件專利文獻的“質(zhì)”的區(qū)別，揭示了具體專利的質(zhì)量和創(chuàng)新水平以及其可能的?濟價值，見表3。
　　微觀層次的專利計量指針，充分結(jié)合專利說明書中的主要特征項(分類代碼、引文類型、權(quán)利要求項、同族專利、申請時間、授權(quán)時間、發(fā)明人等)問的不同含義及其表征意義，通過分析不同專利間特征項問的差異，辨識專利的質(zhì)量和創(chuàng)新水平。其中，科學(xué)關(guān)聯(lián)性、前向引文量、后向引文量、第一次被其他企業(yè)所引用的時問等與專利引文相關(guān)的指標，在表征具體專利文獻的質(zhì)量、創(chuàng)新水平方而，具有廣泛的應(yīng)用；技術(shù)覆蓋范圍、權(quán)力要求數(shù)、同族專利數(shù)量和發(fā)明人數(shù)這四個指標，對于無引文的專利文獻而言，是很好的選擇。至于指標“專利名稱和摘要”，在判斷專利文獻的技術(shù)水準、?濟價值方面，是比較有效的指標，不過，對該指標的分析要求領(lǐng)域內(nèi)的專家方可。Yi-Hsuan Lai和Hui-ChungChe、Martinez-Ruiz A、Jansen W和Risov M、Kas Kasravi都從微觀層面對專利文獻進行了分析。
　　
　　3　總結(jié)
　　
　　?過多年的發(fā)展和完善，美國、日本等發(fā)達國家的專利計量指針在國家層面的應(yīng)用，已?獲得了豐富的實踐檢驗，包括在科學(xué)技術(shù)評價、知識產(chǎn)權(quán)實力等方面的計量分析；同時在宏觀、中觀和微觀三個層面的計量指針也已基本形成。但是，當(dāng)前的專利計量指標也存在著一定的問題。例如，計量中指針與數(shù)據(jù)概念混淆(指針是用于明確地解決一些猜想的度量方法)；計量中以指針為導(dǎo)向，而不是以問題為導(dǎo)向；計量中不區(qū)分領(lǐng)域間的差異，一味套用現(xiàn)成的指標等。同時應(yīng)該注意的是，盡管專利計量指標可以對技術(shù)領(lǐng)域、具體行業(yè)或特定專利進行量化分析，但是并不能完全取代專家在專利計量分析中的作用，最好是結(jié)合二者的優(yōu)點，構(gòu)建以專利計量指標量化分析為主，以專家評議為輔的計量體系。
　　然而，相對于國外較為完善的專利數(shù)據(jù)庫，我國的專利文獻數(shù)據(jù)庫中沒有專利引文，這樣國外計量指標體系中非常重要的引文計量指標就不能應(yīng)用于我國的專利計量分析中，從而使得我國的專利計量指標體系巾缺乏合適的可以借鑒的用于評估具體單件專利價值的指針。與此同時，技術(shù)作為一個復(fù)雜適應(yīng)系統(tǒng)，而專利指針作為度量技術(shù)水準的重要手段，如果專利計量僅僅從宏觀、中觀和微觀三個孤立的層次進行分析，而不考慮其各個層次問的關(guān)聯(lián)，就會破壞技術(shù)的系統(tǒng)特性，從而影響到通過專利計量分析技術(shù)水準的有效性。
　　針對目前已有的被機械割裂開來的三層次專利計量體系所存在的問題，可以嘗試借鑒學(xué)科知識測度體系的理念，構(gòu)建基于專利知識網(wǎng)絡(luò)的專利知識測度指針體系，即深入到專利文獻的篇章內(nèi)部，以專利知識單元為基本組成單位，以專利知識鏈(表征專利知識單元問的各種關(guān)聯(lián)，如共現(xiàn)、依存等)為主要連結(jié)途徑構(gòu)建的專利知識網(wǎng)絡(luò)測度。
　　
　　[作者簡介]高繼平,男,1983年生,博士研究生,發(fā)表論文7篇.丁?,女,1962年生,教授,博士,發(fā)表論文50余篇.

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